Leica的AI颗粒计数指南：可靠检测背后的光学

光学 · 行业分析

Leica 最新应用指南将 AI 辅助颗粒计数与熟悉的采购问题相连：选择可分辨工艺实际需要检测污染物的成像配置。

应用指南涵盖什么

Leica Microsystems 在 2026 年十月 7 日技术文章中介绍，使用 Enersight 平台的 Aivaro AI Feature Detection 识别测量显微图像颗粒与纤维，区分反光、非反光颗粒及纤维，并用标注示例适配分析。

指南将Emspira 3用于较大颗粒常规筛查，将Visoria M用于更小特征或更严格测量。这是应用指南，并不表示每个物镜或AI模型都达到相同检测限。

先定义光学验收测试，再考虑算法

一项 光学检测系统 应根据最小相关特征、样品对比度、工作距离及测量方法选型。提高标称放大倍率，不能单独证明可重复检测目标污染物。

审核以下内容时 定制光学窗口 或 光学镀膜 在检测组件中的应用时，应商定表面污染、反射及透射的评估方式。样品颗粒计数流程与成品光学件规定的表面质量验收测试不同，不得默认互相替代。

TUOLAN 元件目录支持项目定制光学采购，不证明 Leica 系统兼容性，不授权 Leica 软件使用，也不声称供应文中显微镜。

买家询价清单

• 定义特征尺寸、样品类型及所需测量不确定度。
• 固定照明、对焦流程及样品制备方法。
• 用代表性洁净与污染样品验证检测。
• 区分显微镜筛查与光学件图纸、检验规格。

信息来源

公司官方来源，2026 年十月7 日。核查于 2026 年十月 9 日。买家建议为 TUOLAN 分析，独立于来源公告。

由 TUOLAN TRADE 编辑分析。